高加速寿命试验（简称HALT试验）是一种对电子和机械装配件利用快速高、低温变换的震荡体系来揭示设计缺陷和不足的过程。HALT的目的是在产品开发的早期阶段识别出产品的功能和破坏极限，从而优化产品的可靠性。HALT的主要目的是在产品设计和试产阶段，通过试验，快速发现产品的潜在缺陷，并加以改进和验证，从而增加产品的极限值，提高其坚固性及可靠性。施加于试品的应力，包括振动、高低温、温度循环、电力开关循环、电压边际及频率边际测试等。
高加速寿命HALT试验以连续的测试、失效分析、缺陷改进及验证构成了整个程序，而且可能是个闭环循环过程。往往一个测试计划，需要重复进行几次，除非一次性能经受加速应力试验。其关键在于分析失效的根本原因。
HALT试验的主要功能如下：
1．利用高环境应力将产品设计缺陷激发出来，并加以改善；
2. 了解产品的设计能力及失效模式；
3. 作为高应力筛选及制定品质核查规格的参考；
4. 快速找出产品制造过程的瑕疵；
5. 增加产品的可靠性，减少维修成本；
6. 建立产品设计能力数据库，为研发提供依据并缩短设计制造周期。
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